安立光譜分析儀能進行哪些參數的測量

　　在光譜的測量、各參考點通路信號光功率、各參考點光信噪比、光放大器各個波長的增益系數和增益平坦度的測試都可以使用光譜分析儀。

　　光譜分析儀的屏幕顯示測量條件、標記值、其它數據以及測量波形。

　　1 光譜譜寬的測量

　　譜寬即光譜的帶寬，使用光譜分析儀可以測量LD、發光二極管的譜寬。在光譜的譜寬測量時，要特別注意光譜分析儀系統分辨率的選擇，即原理上光譜分析儀的分辨率應當小于被測信號譜寬的1/10.，一般推薦設置為至少小于被測信號譜寬的1/5。

　　在實際的測量中，為了能夠準確測量數據，一般選擇分辨率帶寬為0.1nm以下。分辨率帶寬RES位于SETUP菜單中的第一項，直接輸入所要設定的分辨率帶寬的大小即可，當選擇的分辨率帶寬不同時，從光譜分析儀觀察到的光譜形狀有很大的不同，并且所測量得到的譜寬大小的不同。

　　2 邊模抑制比的測量

　　邊模抑制比，SMSR表示峰值能級與橫模能級之間的能級差值。

　　一般測量邊模抑制比時，需要配合使用MARKER菜單和ANALYSIS菜單中相應的鍵。用MARKER菜單對主波峰值和最高的副波峰進行標識，讀取兩者的峰值功率值。邊模抑制比為最高峰與次高峰之間的能級差。可以通過ANALYSIS菜單中相應的子選項計算得到最后的值。

　　3 增益的測量

　　在進行OA板或光放大器模塊測試的時候，需要測試增益參數(Gain)。增益定義為輸出信號功率 Pout 與輸入信號功率 Pin 之比。

　　在進行增益的測量時，需要用到TRACE菜單中的相關選項。首先將Trace A設置為未接放大器之前的輸入光，按下 Fix A；再將Trace B設置為經過光纖放大器之后的輸出光，按下Fix B;取兩者的峰值功率，即可計算出。

　　4 噪聲系數的測量

　　光譜分析儀的一項重要功能是測量EDFA的等效噪聲噪聲系數(NF)，簡稱噪聲系數。

　　目前所有的光譜分析儀一般都采用內插減源法、時域消光法、偏振消光法等光放大器噪聲系數測量方法，不同的測量方法得到不同的噪聲系數的測量精度。內插減源法采用了曲線擬合的算法。在信號的波長中插入ASE，并采用四點兩次或者更精確的曲線擬合法來計算噪聲的大小。

　　5 系統OSNR的測量

　　在DWDM系統中，光信噪比(OSNR)能夠比較準確地反映信號質量，成為常用的性能指標。

　　使用光譜分析儀測量OSNR常用的方法是積分法。通常采用光譜分析儀所能提供的最小分辨率帶寬(RBW)掃描待測光譜，用積分的方法計算中心頻率左右Br范圍內的功率為信號功率，信道中間Bm范圍內的功率為噪聲功率，兩者相比得到OSNR。信號光功率的積分范圍一般取0.4 nm的帶寬范圍；噪聲功率的積分范圍要取0.4 nm和0.1 nm的帶寬范圍內的功率。一般用0.4nm帶寬范圍內的信號光功率減去0.4nm帶寬范圍內的噪聲光功率，再用其差值除以0.1nm帶寬范圍內的噪聲光功率，之后再取10倍的對數值，可計算出OSNR的大小。