Agilent E4991A 射頻分析儀

Agilent E4991A 射頻分析儀

主要特性與技術指標基本精度基本精度 +/-0.8%掃描參數頻率：1 MHz 至 3 GHz振蕩器電平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArmsDC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 Ma

更多特性Windows 風格的用戶界面內置 VBA 編程功能通過 LAN 接口進行數據傳輸多功能測量選件介電/磁性材料測量（選件 E4991A-002）可靠的晶圓測量（選件 E4991A-010）溫度特性測量（選件 E4991A-007）

描述E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量 3 GHz 以內的元器件提供創新功能，幫助他們進行研發工作。與反射測量技術不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在廣泛的阻抗范圍內提供更精確的阻抗測量結果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。材料評估E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。晶圓測量借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將 Agilent E4991A 連接到射頻探頭系統（由 Cascade Microtech 提供）上進行晶圓測量。溫度特性評估溫度特性測試套件 E4991A-007 是一款為元器件和材料進行溫度特性測量的新型解決方案。該選件可在 - 55°C 至 + 150°C 廣泛的溫度范圍內提供高精度的溫度特性分析功能，以及強大的溫度漂移補償功能。

Agilent E4991A 射頻分析儀

E4991A-001 Add DC BiasE4991A-002 Add Material Measurement FirmwareE4991A-007 Temperature Characteristic Test KitE4991A-010 Probe station connection kitE4991A-1A7 Calibration + Uncertainties + GuardbandingE4991A-1CM Rackmount kitE4991A-1CN Handle kitE4991A-1CP Rackmount and handle kitE4991A-1D5 High stability frequency referenceE4991A-800 Standard frequency referenceE4991A-810 Add keyboardE4991A-820 Add mouseE4991A-A6J ANSI Z540-1-1994 Calibration16092A Spring Clip Fixture16190B 高性能測試套件16192A 平行電極 SMD 測試夾具16194A 高溫元器件測試夾具16196A 平行電極 SMD 測試夾具，直流至 3 GHz16196B 平行電極 SMD 測試夾具，直流至 3 GHz16196C 平行電極 SMD 測試夾具，直流至 3 GHz16196D 平行電極 SMD 測試夾具，直流至 3 GHz16197A 底部電極 SMD 測試夾具16200B 外部直流偏置適配器16453A 電介材料測試夾具16454A 磁性材料測試夾具

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