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簡要描述：KEYSIGHT光 / 電時(shí)鐘恢復(fù)模塊采樣示波器 N1077A 采樣示波器（光 / 電時(shí)鐘恢復(fù)模塊），覆蓋 50MBd-32GBd 連續(xù)數(shù)據(jù)速率，支持光 / 電雙輸入，搭配低抖動時(shí)鐘恢復(fù)與多波長適配，是通信測試、電子研發(fā)的高效可靠工具。
產(chǎn)品型號：N1077A廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2026-01-12訪 問 量：91產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | KEYSIGHT/美國是德 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 數(shù)字示波器 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
| 數(shù)據(jù)速率范圍 | 光和電設(shè)計(jì)上支持 50MBd 至 32GBd 的連續(xù)數(shù)據(jù)速率 | 最大輸入電壓 | 電輸入最大為 ±2.2Vpp |
KEYSIGHT光 / 電時(shí)鐘恢復(fù)模塊采樣示波器 N1077A 采樣示波器以光 / 電時(shí)鐘恢復(fù)為核心功能，專為滿足多場景下的信號測試與時(shí)鐘恢復(fù)需求設(shè)計(jì)。其覆蓋 50MBd-32GBd 的連續(xù)數(shù)據(jù)速率，可適配從低速到高速的各類信號測試。支持光、電雙輸入模式，搭配多波長兼容與低抖動時(shí)鐘恢復(fù)能力，在通信設(shè)備測試、電子元器件研發(fā)、科研實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域表現(xiàn)出色，能為用戶提供精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試數(shù)據(jù)，助力提升測試效率與產(chǎn)品質(zhì)量。
：數(shù)據(jù)速率范圍 50MBd-32GBd，滿足不同速率信號測試；支持光、電信號輸入，光輸入用 FC/PC 連接器（適配 9/125 µm 或 50/125 µm），電輸入為 2.92mm 陰頭（差分 / 單端、交流耦合、50Ω），適配多種信號類型。
精準(zhǔn)輸入電平與多波長適配：電輸入按速率明確最小鎖定電平，保障信號穩(wěn)定接收；光輸入可選不同選件，在特定波長下有明確最小 OMA，且支持單模 / 多模，波長覆蓋 850nm、1310nm、1550nm 等范圍，適配多樣光信號場景。
低抖動時(shí)鐘恢復(fù)與寬輸出范圍：≥2Gbd 時(shí)恢復(fù)時(shí)鐘隨機(jī)抖動最大 220fs，16GHz 時(shí)特征值 130fs，輔助時(shí)鐘輸出抖動＜50fs RMS，確保時(shí)鐘精準(zhǔn)；恢復(fù)時(shí)鐘輸出 50MHz-16GHz，輔助時(shí)鐘 4GHz-8GHz，滿足不同時(shí)鐘需求。
靈活環(huán)路帶寬與跟蹤能力：環(huán)路帶寬 0.015MHz-20MHz（精度 ±30%），可按需調(diào)節(jié)；跟蹤范圍 ±2500ppm（含 SSC 跟蹤），采集范圍 ±5000ppm，保障對信號變化的精準(zhǔn)跟蹤。
緊湊尺寸與合理功耗：最大功率 50W，能耗控制合理；尺寸（不含前置連接器和后支腳）88.26mm×207.40mm×485mm，體積小巧，節(jié)省安裝空間，適配多種測試環(huán)境。
KEYSIGHT光 / 電時(shí)鐘恢復(fù)模塊采樣示波器，核心配置支持 50MBd-32GBd 連續(xù)數(shù)據(jù)速率，含光 / 電雙輸入接口（光：FC/PC；電：2.92mm 陰頭），默認(rèn)具備多波長適配（850nm、1310nm、1550nm 等）與基礎(chǔ)時(shí)鐘恢復(fù)功能。同時(shí)，產(chǎn)品可選配 選件 SMS、SXT，選件 SMS 在 1310nm/1550nm 波長下最小 OMA 200μW，選件 SXT 對應(yīng)波長下最小 OMA 80μW，用戶可根據(jù)光信號測試精度需求選擇適配選件。
通信設(shè)備測試領(lǐng)域：適用于 5G 及下一代通信設(shè)備的信號測試，如光傳輸設(shè)備、基站核心部件等，可對設(shè)備光 / 電信號進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù)與參數(shù)檢測，驗(yàn)證設(shè)備信號傳輸穩(wěn)定性，助力設(shè)備性能優(yōu)化與質(zhì)量把控。
電子元器件研發(fā)領(lǐng)域：針對高速電子元器件（如芯片、連接器等），測試其在不同數(shù)據(jù)速率下的信號輸出特性，通過精準(zhǔn)時(shí)鐘恢復(fù)功能，分析元器件信號時(shí)序精度，為元器件研發(fā)改進(jìn)提供數(shù)據(jù)支撐，提升元器件可靠性。
光模塊生產(chǎn)測試領(lǐng)域：在光模塊批量生產(chǎn)中，對光模塊的光信號輸出進(jìn)行測試，結(jié)合時(shí)鐘恢復(fù)功能檢測信號時(shí)序穩(wěn)定性，快速篩選合格產(chǎn)品，提高生產(chǎn)效率，降低因光模塊性能問題導(dǎo)致的后續(xù)設(shè)備故障風(fēng)險(xiǎn)。
科研實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域：高校、科研機(jī)構(gòu)開展高速信號傳輸、時(shí)鐘同步等相關(guān)科研實(shí)驗(yàn)時(shí)，可作為核心測試儀器，提供寬速率范圍、低抖動的測試環(huán)境，助力科研人員獲取精準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，推動通信、電子領(lǐng)域科研項(xiàng)目突破。
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