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圣德科Santec高精度可調諧激光光源

簡要描述：圣德科Santec高精度可調諧激光光源是專為光通信研發與測試設計的高精度可調諧激光光源，由美佳特科技供應。其覆蓋 1480-1640nm C+L 波段，具備 ±1pm 超高波長精度與 ±0.01dB 功率穩定性，支持 100nm/s 高速掃描模式。設備集成低偏振相關損耗（PDL<0.05dB）與內置波長校準功能，無需額外校準工具，操作便捷。

產品型號：TSL510

廠商性質：經銷商

更新時間：2025-11-12

訪問量：39

產品分類

Product Category

光通訊測試設備

光時域反射儀校準件分布式單元 PXIe 機箱曲線追蹤儀任意波形發生器光功率計二極管計 v頻帶功率感測器光電時鐘恢復光測試模塊電接口模塊示波器光示波器及模塊探頭/光衰減器光回損儀/插損儀光譜分析儀誤碼儀點光源波長計

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詳細介紹

品牌	Santec/日本	產地類別	進口
應用領域	電子/電池

圣德科Santec高精度可調諧激光光源

1. 品牌簡介

Santec（圣德科）是精密光學設備制造商，深耕光學領域多年，憑借優良的技術研發實力與嚴苛的品控標準，在光通信、光電子等領域樹立了良好口碑。其產品以高精度、高穩定性著稱，廣泛應用于全球實驗室、企業研發中心及生產產線，為光學測試與研發提供專業可靠的設備支持。美佳特科技作為專業的光學設備供應商，與 Santec 達成合作，負責 Santec TSL510 等優質產品在國內的供應與服務，為用戶提供原廠品質保障、完善的技術支持及便捷的咨詢服務，包括產品手冊、中文說明書獲取與價格咨詢等。

2. 產品介紹

圣德科Santec高精度可調諧激光光源是 Santec 推出的一款高精度可調諧激光光源，專為光通信研發與測試場景量身打造，現由美佳特科技正式供應。該設備核心覆蓋 1480-1640nm 波長范圍，精準囊括 C+L 波段，滿足光通信領域主流測試需求。在精度與穩定性上，其表現尤為突出，具備 ±1pm 的超高波長精度，確保激光波長輸出精準可控；同時擁有 ±0.01dB 的功率穩定性，避免功率波動對測試結果的干擾。此外，設備支持 100nm/s 的高速掃描模式，大幅提升測試效率，減少等待時間。從硬件配置到功能設計，Santec TSL510 均以 “高精度、高效率、高可靠" 為核心，適配不同場景下的精密測試需求，且用戶可通過美佳特科技獲取 TSL510 手冊、中文說明書，快速掌握設備操作。

3. 產品特點

寬波段覆蓋：精準覆蓋 1480-1640nm C+L 波段，無需更換設備即可滿足光通信領域多波段測試需求，適配主流光通信系統測試場景。

超高精度與穩定性：±1pm 波長精度確保波長輸出精準，避免波長偏差影響測試數據；±0.01dB 功率穩定性，保障長時間測試中功率輸出平穩，提升測試結果準確性。

高速掃描能力：支持 100nm/s 高速掃描模式，相比普通設備大幅縮短掃描時間，尤其適合批量測試或高效研發場景，提升整體工作效率。

低偏振相關損耗：集成低 PDL 設計（PDL<0.05dB），減少偏振變化對激光輸出的影響，確保在不同偏振狀態下測試結果的一致性。

內置波長校準：自帶波長校準功能，無需額外搭配校準設備，簡化操作流程，降低使用門檻，同時保障長期使用中的波長精度，減少維護成本。

便捷服務支持：通過美佳特科技可獲取 TSL510 手冊、中文說明書，便于快速熟悉設備操作；同時提供價格咨詢服務，為采購決策提供清晰參考。

4. 應用場景

光通信研發場景：適用于光通信模塊、光傳輸系統的研發過程，可提供精準穩定的激光光源，助力研發人員開展波長特性、功率傳輸等性能測試，加速研發進度。

DWDM 測試場景：在密集波分復用（DWDM）系統測試中，能夠覆蓋多波段波長，支持高速掃描，可高效完成 DWDM 系統的信道測試、插損測試等，保障系統傳輸質量。

光器件表征場景：用于光耦合器、光濾波器、光開關等光器件的性能表征，憑借超高波長精度與低 PDL，精準測量器件的波長響應、偏振相關特性等關鍵參數，為器件質量把控提供依據。

硅光芯片測試場景：適配硅光芯片的研發與生產測試，硅光芯片對激光精度要求較高，Santec TSL510 的 ±1pm 波長精度與穩定功率輸出，可滿足硅光芯片的光性能測試需求，助力硅光技術產業化。

實驗室精密測試場景：科研實驗室開展光學相關研究時，需要高精度、高穩定的激光光源，Santec TSL510 可作為核心測試設備，支持各類精密光學實驗，為科研數據的準確性提供保障。

生產產線質檢場景：在光通信設備、光器件的生產產線中，可作為質檢設備，對產品進行批量性能測試，高速掃描功能提升質檢效率，高精度特性確保質檢結果可靠，幫助企業把控產品出廠質量。

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