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| 品牌 | Santec/日本 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池 |
Santec高精度可調諧激光光源TSL570
1. 品牌簡介
寬波段精準覆蓋：覆蓋 1480-1640nm C+L 波段，無需頻繁更換設備，即可滿足光通信領域 DWDM 測試、光器件表征等多類測試場景需求，適配性強。
超高精度與穩定性：±1pm 波長精度確保波長輸出無偏差，保障測試數據準確性；±0.01dB 功率穩定性，避免功率波動對測試結果造成干擾，適合長時間連續測試。
高速掃描提升效率：支持 100nm/s 高速掃描速度，相比普通設備大幅縮短單次測試時間，在批量生產測試或高效研發場景中，能有效減少整體測試周期，提升工作效率。
低損耗高抑制比：內置低偏振相關損耗（PDL<0.05dB）特性，減少偏振變化對測試結果的影響；高邊模抑制比（SMSR>55dB），確保激光輸出純度，進一步保障測試數據的精準度。
模塊化集成設計：采用模塊化結構設計，可便捷集成至自動化測試系統，無需復雜改造，降低系統搭建難度，同時滿足工業級可靠性與重復性要求，適配生產產線高強度使用需求。
完善服務支持：可獲取 TSL570 手冊、中文說明書，幫助用戶快速熟悉設備操作流程；同時提供價格咨詢服務，為用戶采購決策提供清晰參考，后續使用中遇到技術問題也可獲得專業支持。
DWDM 測試場景：在密集波分復用（DWDM）系統測試中，設備覆蓋的 C+L 波段與 ±1pm 波長精度，可精準測試 DWDM 器件的信道插損、波長響應等關鍵參數，100nm/s 高速掃描能高效完成批量器件測試，保障 DWDM 系統傳輸質量。
光器件表征場景：用于光耦合器、光濾波器、光開關等光器件的性能表征，低偏振相關損耗（PDL<0.05dB）與高邊模抑制比（SMSR>55dB）特性，可精準測量器件的偏振相關特性、波長響應等參數，為器件質量把控提供可靠依據。
硅光芯片驗證場景：硅光芯片對激光光源的精度與穩定性要求較高，Santec TSL570 的 ±1pm 波長精度、±0.01dB 功率穩定性及低 PDL 特性，可滿足硅光芯片研發與生產過程中的性能驗證需求，助力硅光技術產業化推進。
實驗室精密測試場景：科研實驗室開展光通信相關研究時，需要高精度、高穩定的激光光源作為測試基礎，Santec TSL570 可作為核心測試設備，支持各類精密光學實驗，為科研數據的可靠性提供保障，助力科研項目順利推進。
生產產線質檢場景：在光通信設備、光器件的生產產線中，該設備可作為質檢工具，對出廠產品進行性能抽檢或全檢，高速掃描功能提升質檢效率，高精度與高穩定性確保質檢結果可靠，幫助企業嚴格把控產品出廠質量，減少不良品流出。
自動化測試系統集成場景：其模塊化設計可輕松集成至自動化測試系統，適配工業級生產與研發需求，無需額外定制改造，即可實現測試流程自動化，減少人工操作誤差，提升整體測試效率與一致性。
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