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| 品牌 | HP/惠普 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池 |
模塊化靈活配置:配備雙插槽設計,支持功率計、光源等不同模塊自由組合,可切換為單/雙通道功率計、損耗測試裝置等多種形態,適配多元測試場景,減少設備投入成本。
寬域測量能力:波長覆蓋范圍達450-1700nm,功率計模塊靈敏度跨度從-70dBm至-110dBm,外部光探頭可覆蓋+27至-90dBm功率范圍,適配不同強度、波段的光信號測量。
精準穩定性能:各功率計模塊在全波長范圍內單獨校準,可溯源標準體系,保障測量精度;光源模塊具備良好的線性度與長短期穩定性,為測試提供可靠信號支撐。
多元信號輸出:光源模塊支持連續光輸出,同時可提供270Hz、1kHz、2kHz三種頻率的脈沖調制光,內部可實現6dB衰減,適配不同測試條件需求。
波長范圍:450-1700nm,覆蓋多波段光信號測量,適配主流光通信及光學測試場景。
功率測量范圍:功率計模塊靈敏度-70dBm至-110dBm;外部光探頭可覆蓋+27至-90dBm,適配強弱光信號測量。
光源性能:支持連續光與脈沖調制光輸出,調制頻率為270Hz、1kHz、2kHz,內部衰減可達6dB,線性度與穩定性表現良好。
結構設計:雙插槽主機框架,支持多模塊組合安裝,適配不同功能擴展需求,操作便捷。
校準特性:各功率計模塊單獨校準,校準結果可溯源標準體系,保障全波長范圍內的測量精度。
光功率校準服務:憑借精準的測量性能與可溯源校準特性,適用于第三方校準機構及企業內部的光功率校準工作,保障測試設備精度。
光器件損耗測試:適配單模、多模光器件的插入損耗測試,可用于光纖連接器、光耦合器等器件的生產檢測與性能驗證。
開路光束測量:搭配外部光探頭,可完成開路光束的功率測量,適配特殊測試場景下的光信號檢測需求。
實驗室研發測試:滿足高校、科研機構在光通信領域的研發需求,為光學器件優化、光信號特性分析提供可靠測量數據。
生產流水線檢測:模塊化設計可快速切換測試功能,適配光通信部件的批量生產檢測,助力提升生產效率與產品一致性。
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